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                      CN/EN

                      SEMICON & OPTO半導體設備

                      半導體設備

                      自動(dòng)光學(xué)檢測儀

                      Pemtron ATHENA 3D AOI

                      ATHENA

                      1. 先進(jìn)的高速度檢測和測量技術(shù)

                      2. 高元件檢測技術(shù)

                      3. 無(wú)陰影3D技術(shù)

                      4. 光學(xué)字體核對

                      5. 3D焊錫高度測量

                      6. 3D引腳檢測

                      7. 2D RGB算法

                      Jin Bun自動(dòng)光學(xué)檢測

                      E-3000

                      1. 客制化:滿(mǎn)足客戶(hù)個(gè)別需求,量身訂做特殊功能

                      2. 高解析度:可判別微少不良

                      3. 共用性高:搭載變倍鏡頭,更換晶片規格只需調整倍率,不需更換鏡頭

                      4. 圖像存儲:可存儲存各站正、反面NG及OK最近檢測各200筆圖像

                      5. 圖像顯示:運行可即時(shí)顯示各站良品或不良品圖像

                      6. 自訂分類(lèi):可自由設定不良名稱(chēng)及吹氣分類(lèi),方便管理。

                      7. SSD硬碟:利用先進(jìn)電腦硬體,快速開(kāi)機,減少等待時(shí)間

                      8. 人性介面:容易操作使用。

                      9. 高定位精度:采用超高解析度ENCODER,不誤判混料,不洗盤(pán)

                      10. 生產(chǎn)統計顯示:可即時(shí)顯示各站各項不良統計值。